Partial discharge inception and deterioration of Nomex paper under repetitive square wave voltage

Changjiang Zheng, Qian Wang, Huai Wang, Zhan Shen, Filipe Faria Da Silva, Claus Leth Bak

科研成果: 图书/报告稿件的类型会议稿件

源语言英语
主期刊名2022 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Applications, ICHVE 2022
出版商Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN(电子版)9781665407502
DOI
出版状态已出版 - 2022
已对外发布
活动2022 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Applications, ICHVE 2022 - Chongqing, 中国
期限: 9月 25 20229月 29 2022

出版系列

姓名2022 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Applications, ICHVE 2022

会议

会议2022 IEEE International Conference on High Voltage Engineering and Applications, ICHVE 2022
国家/地区中国
Chongqing
时期9/25/229/29/22

!!!ASJC Scopus Subject Areas

  • 电子、光学与磁性材料
  • 计算数学
  • 安全、风险、可靠性和质量
  • 仪表化
  • 能源工程与电力技术
  • 电气与电子工程

指纹

探究 'Partial discharge inception and deterioration of Nomex paper under repetitive square wave voltage' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

引用此