Crack profiles in applied moment double cantilever beam tests

C. H. Hsueh, E. Y. Sun, P. F. Becher, K. P. Plucknett

科研成果: 期刊稿件文章同行评审

2 引用 (Scopus)

指纹

探究 'Crack profiles in applied moment double cantilever beam tests' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。

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