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扰动振幅和扰动频率对 Fermi-Pasta-Ulam-Tsingou 回归现象的影响
Zhou Zheng, Jin Hua Li,
You Qiao Ma
, Hai Dong Ren
科研成果
:
期刊稿件
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文章
›
同行评审
综述
指纹
指纹
探究 '扰动振幅和扰动频率对 Fermi-Pasta-Ulam-Tsingou 回归现象的影响' 的科研主题。它们共同构成独一无二的指纹。
分类
加权
按字母排序
Keyphrases
Evolution Stage
6%
Fermi-Pasta-Ulam-Tsingou
100%
Frequency Perturbation
100%
High-order Sideband
20%
Instability Evolution
6%
Large Perturbation
20%
Modulation Frequency
13%
Nonlinear Modulation
6%
Nonlinear Physics
6%
Optimized Modulation Strategy
6%
Peak Modulation
6%
Small Perturbation
6%
Spectrum Evolution
6%
Wave Evolution
6%
Engineering
Initial State
25%
Modulation Frequency
50%
Peak Modulation
25%
Sidebands
75%
Physics
Frequency Modulation
50%
Nonlinear Physics
25%
Nonlinear System
25%